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  1. Datasheet Texas Instruments 5962-9172701QLA
    Dispositivos de prueba de escaneo con flip-flops activados por borde tipo D octal 24-CDIP -55 a 125
  2. Datasheet Texas Instruments 5962-9172701Q3A
    Dispositivos de prueba de escaneo con flip-flops activados por borde tipo D octal 28-LCCC -55 a 125
  1. Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AJT
    Dispositivos de prueba de escaneo con flip-flops activados por borde tipo D octal 24-CDIP -55 a 125
  2. Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK
    Dispositivos de prueba de escaneo con flip-flops activados por borde tipo D octal 28-LCCC -55 a 125