Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8373AJT — Ficha de datos

FabricanteTexas Instruments
SerieSN54BCT8373A
Numero de parteSNJ54BCT8373AJT
Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8373AJT

Dispositivos de prueba de escaneo con pestillos de tipo D octal 24-CDIP -55 a 125

Hojas de datos

Scan Test Devices With Octal D-Type Latches datasheet
PDF, 421 Kb, Revisión: F, Archivo publicado: jul 1, 1996
Extracto del documento

Precios

Estado

Estado del ciclo de vidaActivo (Recomendado para nuevos diseños)
Disponibilidad de muestra del fabricanteNo

Embalaje

Pin24242424
Package TypeJTJTJTJT
Industry STD TermCDIPCDIPCDIPCDIP
JEDEC CodeR-GDIP-TR-GDIP-TR-GDIP-TR-GDIP-T
Package QTY1111
CarrierTUBETUBETUBETUBE
Device MarkingA5962-9172501MLTSNJ54BCT8373AJ
Width (mm)6.926.926.926.92
Length (mm)32323232
Thickness (mm)4.74.74.74.7
Pitch (mm)2.542.542.542.54
Max Height (mm)5.085.085.085.08
Mechanical DataDescargarDescargarDescargarDescargar

Paramétricos

Bits8
ICC @ Nom Voltage(Max)52 mA
Input TypeTTL
Operating Temperature Range-55 to 125 C
Output Drive (IOL/IOH)(Max)64/-15 mA
Output TypeTTL
Package GroupCDIP
Package Size: mm2:W x LSee datasheet (CDIP) PKG
RatingMilitary
Technology FamilyBCT
VCC(Max)5.5 V
VCC(Min)4.5 V
tpd @ Nom Voltage(Max)9.5 ns

Plan ecológico

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Linea modelo

Clasificación del fabricante

  • Semiconductors > Space & High Reliability > Logic Products > Specialty Logic Products > Boundary Scan (JTAG)