Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8373AFK — Ficha de datos

FabricanteTexas Instruments
SerieSN54BCT8373A
Numero de parteSNJ54BCT8373AFK
Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8373AFK

Dispositivos de prueba de escaneo con cierres octales tipo D 28-LCCC -55 a 125

Hojas de datos

Scan Test Devices With Octal D-Type Latches datasheet
PDF, 421 Kb, Revisión: F, Archivo publicado: jul 1, 1996
Extracto del documento

Precios

Estado

Estado del ciclo de vidaActivo (Recomendado para nuevos diseños)
Disponibilidad de muestra del fabricanteNo

Embalaje

Pin28282828
Package TypeFKFKFKFK
Industry STD TermLCCCLCCCLCCCLCCC
JEDEC CodeS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-N
Package QTY1111
CarrierTUBETUBETUBETUBE
Device Marking5962-SNJ54BCT9172501M3A8373AFK
Width (mm)11.4311.4311.4311.43
Length (mm)11.4311.4311.4311.43
Thickness (mm)1.831.831.831.83
Pitch (mm)1.271.271.271.27
Max Height (mm)2.032.032.032.03
Mechanical DataDescargarDescargarDescargarDescargar

Paramétricos

Bits8
ICC @ Nom Voltage(Max)52 mA
Input TypeTTL
Operating Temperature Range-55 to 125 C
Output Drive (IOL/IOH)(Max)64/-15 mA
Output TypeTTL
Package GroupLCCC
Package Size: mm2:W x L28LCCC: 131 mm2: 11.43 x 11.43(LCCC) PKG
RatingMilitary
Technology FamilyBCT
VCC(Max)5.5 V
VCC(Min)4.5 V
tpd @ Nom Voltage(Max)9.5 ns

Plan ecológico

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Linea modelo

Clasificación del fabricante

  • Semiconductors > Space & High Reliability > Logic Products > Specialty Logic Products > Boundary Scan (JTAG)